跨越热噪声：利用张量网络揭示随机 CMOS 位链中的耗散-可靠性权衡2026-03-06本文深度解析了 Cathryn Murphy 等人发表的关于 CMOS 位链可靠性的研究，重点探讨了如何利用张量网络（TN）和 DMRG 算法解决具有 10^14 级微观状态的随机主方程，揭示了电压与链长在错误抑制中的竞争关系。#张量网络#DMRG#随机热力学#CMOS 器件#生物电子学#计算化学方法论