探测莫特绝缘体中的拓扑零点:基于杂质谱学的“零能子”解析
本文深度解析了如何利用杂质谱学探测莫特绝缘体中Green函数零点(GFZs)的拓扑特征,并揭示了由此产生的“零能子”(Zeron)激发态及其在实验中的潜在观测信号。
本文深度解析了如何利用杂质谱学探测莫特绝缘体中Green函数零点(GFZs)的拓扑特征,并揭示了由此产生的“零能子”(Zeron)激发态及其在实验中的潜在观测信号。
本文深度解析了发表于 arXiv:2602.23477 的最新研究,探讨了强关联 Mott 绝缘体中 Green's 函数零点(GFZs)如何通过杂质能谱产生“Zeron”激发,并揭示其拓扑探测的新范式。