探测莫特绝缘体中的拓扑零点：基于杂质谱学的“零能子”解析
本文深度解析了如何利用杂质谱学探测莫特绝缘体中Green函数零点（GFZs）的拓扑特征，并揭示了由此产生的“零能子”（Zeron）激发态及其在实验中的潜在观测信号。
Impurity Spectroscopy
Green's 函数零点及其拓扑特征：基于杂质能谱的深度解析
本文深度解析了发表于 arXiv:2602.23477 的最新研究，探讨了强关联 Mott 绝缘体中 Green's 函数零点（GFZs）如何通过杂质能谱产生“Zeron”激发，并揭示其拓扑探测的新范式。